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新TOEICテスト一発で正解がわかる / キム・デギュン著
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル

データ種別 図書
出版者 東京 : 旺文社
出版年 2006.1
本文言語 日本語
大きさ 319p ; 21cm
一般注記 付属資料:録音ディスク(1枚 12cm)
著者標目 キム, デギュン <キム, デギュン>

所蔵情報を非表示

本館2Fグローバルコーナー
830.79 2005520600
4010934905 2006.1

書誌詳細を非表示

件 名 BSH:英語
分 類 NDC8:830.79
NDC9:830.79
書誌ID 2000272364
ISBN 4010934905
NCID BA75816192
巻冊次 ISBN:4010934905

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