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新TOEICテスト一発で正解がわかる / キム・デギュン著
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 旺文社 |
| 出版年 | 2006.1 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | 319p ; 21cm |
| 一般注記 | 付属資料:録音ディスク(1枚 12cm) |
| 著者標目 | キム, デギュン <キム, デギュン> |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 請求メモ | 予約 | 複写取寄 | eDDS |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 本館書庫・一般書架和 |
|
830.79 | 2005520600 |
|
4010934905 | 2006.1 |
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