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物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 / 木本浩司 [ほか] 著
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ

データ種別 図書
出版者 東京 : 講談社
出版年 2020.7
本文言語 日本語
大きさ x, 389p : 挿図 ; 21cm
別書名 標題紙タイトル:Transmission Electron Microscope for Materials Research
異なりアクセスタイトル:透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための
異なりアクセスタイトル:物質材料研究のための透過電子顕微鏡
一般注記 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
編集: 講談社サイエンティフィク
引用文献、参考書・参考文献: 章末
著者標目 木本, 浩司 <キモト, コウジ>
三石, 和貴 <ミツイシ, カズタカ>
三留, 正則 <ミトメ, マサノリ>
原, 徹 <ハラ, トオル>
長井, 拓郎 <ナガイ, タクロウ>
講談社サイエンティフィク <コウダンシャ サイエンティフィク>

所蔵情報を非表示

本館2F一般書架
549.97 2020015805
9784065203866 2020.7

書誌詳細を非表示

件 名 BSH:電子顕微鏡
分 類 NDC8:549.97
NDC9:549.97
NDC10:549.97
書誌ID 2000413250
ISBN 9784065203866
NCID BC01556588
巻冊次 ISBN:9784065203866 ; PRICE:5000円+税

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